行业标准
- YB 4015-1991 玻璃熔窑用耐火制品试验的制样规定
- YB 4022-1991 耐火泥浆荷重软化温度试验方法(示差---升温法)
- YB 4020-1991 黄血盐纳中氰化物含量的测定方法
- YB 4016-1991 玻璃熔窑用耐火制品抽样和验收方法
- YB 4059-1991 金属包覆高温密封圈
- YB/T 004-1991 初轧坯和钢坯技术条件
- YB 4017-1991 玻璃熔窑用耐火制品形状尺寸硅砖
- YB 4038-1991 高炉用低温粗缝糊
- YB 4030-1991 氟碳铈镧矿精矿
- YB 4063-1991 加热炉热滑轨技术条件
- YB 4013-1991 优质镁砂化学分析方法邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁量
- YB 4034-1991 高炉炭块尺寸、外观检查方法
- YB 2804-1991 高炉炭块
- LY/T 1002-1991 车立柱
- CH 8003-1991 坐标格网尺
- LY 1003-1991 森林铁路线路和信号标志
- LY 1000-1991 容器育苗技术
- CH 8004-1991 三等标准金属线纹尺
- CH/T 8005-1991 0.8-7.0倍纠正仪
- YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
- YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
- YS/T 13-1991 高纯四氯化锗
- SJ/T 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32KHZ音叉石英晶体元件
- SJ/T 10021-1991 电子设备用固定电感器空白详细规范 评定水平E
- SJ/T 10040-1991 半导体集体成电路CMOS4000系列数据选择器
- SJ/T 10027-1991 KHTL推拉式滑动开关详细规范
- SJ/T 10028-1991 XFG--7高频信号发生器
- SJ/T 10089-1991 荧光粉用硫化锌
- SJ/T 10056-1991 2CZ59型硅整流二级管详细规范
- SJ/T 10067-1991 BT40型可调单结晶体管详细规范
- SJ/T 10051-1991 3DA2688型晶体管详细规范
- SJ/T 10085-1991 半导体集成电路CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器 (有预置端,清除端)
- SJ/T 10079-1991 半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器
- SJ/T 10087.7-1991 彩色显象管玻璃主要原材料的化学分析方法 氟硅酸钠的化学分析方法
- SJ/T 10087.8-1991 彩色显象管玻璃主要原材料的化学分析方法 锑酸钠的化学分析方法
- SJ/T 10066-1991 BT37型PN硅单结晶体管详细规范
- SJ/T 10033-1991 ZQMI--325/16型氢闸流管
- SJ/T 10090-1991 荧光粉用硫化镉
- SJ/T 10082-1991 半导体集成电路CT54195/CT74195型4位移位寄存器(半行存取,J--K输入)
- SJ/T 10050-1991 3DA1722型晶体管详细规范
- SJ/T 10080-1991 半导体集成电路CT5442/CT7442型4线--10线译码器(BCD输入)
- SJ/T 10024-1991 KHG型杠杆式滑动开关详细规范
- SJ/T 10031-1991 电流调整二极管详细规范
- SJ/T 10074-1991 半导体集成电路CT75188型四线驱动器
- SJ/T 10087.6-1991 彩色显象管玻璃主要原材料的化学分析方法 氢氧化铈的化学分析方法
- SJ/T 10039-1991 半导体集成电路CMOS4000系列译码器
- SJ/T 10041-1991 半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器
- SJ/T 10048-1991 半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器
- SJ/T 10029-1991 SR8型双踪示波器
- SJ/T 10043-1991 半导体集成电路TTL54LS112/CT74LS112型双下降沿J--K触发器