GB/T 45114-2024 纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布

标准编号：GB/T 45114-2024

标准名称：纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布

英文名称：Nanotechnologies—Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy

发布日期：2024-12-31

实施日期：2025-07-01

起草人

李旭、任玲玲、黄鹭、娄花芬、刘伟丽、李适、郭新秋、刘俊杰、雷前、高思田、王亚磊、张毅、王宇婷、莫永达、曹丛、马拥军、王俪颖、赵东艳、梁霄鹏、施玉书、崔磊

中国计量科学研究院、河南科技大学、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、山东省计量科学研究院、上海交通大学、西南科技大学、测试狗（成都）实验检测有限公司、中铝科学技术研究院有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、清华大学深圳国际研究生院、中南大学、南京市计量监督检测院

本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像，获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。

本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒，具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。