GB/T 44791-2024 集成电路三维封装带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求

标准编号：GB/T 44791-2024

标准名称：集成电路三维封装带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求

英文名称：Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-thining process and evaluation

发布日期：2024-10-26

实施日期：2025-05-01

起草人

袁世伟、王波、黄海林、肖隆腾、肖汉武、王燕婷、陈明敏

中国电子科技集团公司第五十八研究所、神州龙芯智能科技有限公司

本文件规定了12in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片的减薄工艺（以下简称减薄工艺）过程和评价要求。

本文件适用于12in及以下尺寸需减薄的带凸点圆片。