GB/T 44796-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求

标准编号：GB/T 44796-2024

标准名称：集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求

英文名称：Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-sawing process and evaluation

发布日期：2024-10-26

实施日期：2025-05-01

起草人

袁世伟、李守伟、任云飞、郑卫华、吉勇、印琴

起草单位

中国电子科技集团公司第五十八研究所、神州龙芯智能科技有限公司

适用范围

本文件规定了12in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺(以下简称划片工艺)的一般要求、详细要求和评价要求。

本文件适用于12in及以下尺寸集成电路三维封装带凸点圆片划片工艺。