SN/T 3323.7-2023 氧化铁皮第7部分：游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法

标准编号：SN/T 3323.7-2023

标准名称：氧化铁皮第7部分：游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法

英文名称：Mill scales—Part 7:Determination of free a-SiO2 content—X-ray diffraction K value method

发布日期：2023-05-05

实施日期：2023-12-01

起草人

唐梦奇、阮贵武、韦新红、何龙凉、张庆建

南宁海关、青岛海关等

本文件规定了用X射线衍射К值法测定氧化铁皮中游离a-SiO2含量的检测方法。

本文件适用于氧化铁皮中游离a-SiO2含量的测定。测定范围：＞0.50%。