SJ/T 11845.1-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分：通用要求

标准编号：SJ/T 11845.1-2022

标准名称：基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分：通用要求

英文名称：Reliability evaluation methods for electronic components and devices based on low-frequency noise-Part 1: General requirements

发布日期：2022-10-20

实施日期：2023-01-01

起草人

罗宏伟、余永涛、包军林、张伟、郭美洋、李兆成

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院、中国运载火箭技术研究院、济南市半导体元件试验所、深圳市量为科技有限公司

本文件规定了基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的通用要求，为具体电子元器件可靠性的低频噪声评价方法标准的制定和实施提供指导。

本文件适用于在电子元器件生产过程中及使用前对元器件可靠性进行评价，由研制生产企业、用户或其它相应检测机构实施。

在对具体电子元器件进行可靠性评价时，需要结合具体电子元器件的特性进行实施，评价方法不限于本文件规定的内容。