SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序

标准编号：SJ/T 11874-2022

标准名称：电动汽车用半导体分立器件应力试验程序

英文名称：Stress test procedure for discrete semiconductor in electric vehicle

发布日期：2022-10-20

实施日期：2023-01-01

起草人

周圣泽、张秋、任艳、陈媛、王之哲、张树琨

工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第四研究院、车载服务产业应用联盟

本文件描述了电动汽车用半导体分立器件（以下简称器件）的分级及最低应力试验程序（用于应力试验程序组成器件检验方案）。

本文件适用于指导制定电动汽车用半导体分立器件检验方案的确定。